赫爾納優(yōu)勢供應(yīng)瑞士SiTek一維/二維位敏探測器

產(chǎn)品簡介：SiTek探測器主要有兩種類型：一維和二維。SiTek位敏探測器PSD根據(jù)側(cè)面效應(yīng)光電二極管原理工作，具有出色的位置分辨率。SiTek位敏探測器PSD，高分辨率，位置非線性±0.1%和±0.3%供應(yīng)瑞士SiTek一維/二維位敏探測器

產(chǎn)品屬性：一維/二維位敏探測器SiTek規(guī)格數(shù)據(jù)是在以下條件下測量的：

- 偏壓=15V

- 溫度23°C

- 位置非線性和熱漂移的測量范圍為探測器長度的80%

- 熱漂移的測量范圍為23°C至70°C

- 除非另有說明，否則所有數(shù)值均為典型值

- 有關(guān)詳細(xì)數(shù)據(jù)，請參閱各數(shù)據(jù)表供應(yīng)瑞士SiTek一維/二維位敏探測器

SiTek位敏探測器PSD的特點：

- 將光點或輻射點的位置轉(zhuǎn)換為信號電流

- PSD探測器具備出色的位置分辨率和線性度

- 光譜響應(yīng)范圍廣

- 可在各種光照或輻射強(qiáng)度下工作

- 響應(yīng)時間短

- 同時測量光或輻射強(qiáng)度的位置

- 不受光點或輻射點聚焦的影響

- 動態(tài)范圍廣

供應(yīng)瑞士SiTek一維/二維位敏探測器

SiTek位敏探測器PSD的應(yīng)用：

- 距離和高度測量

- 校準(zhǔn)、位置運(yùn)動測量和振動研究

- 非接觸式距離測量系統(tǒng)（三角測量法）

- 校準(zhǔn)和表面水平測量

- 定位和運(yùn)動測量系統(tǒng)

- 光學(xué)光譜分析儀

- 三維機(jī)器視覺（輪廓映射）

- 角度測量系統(tǒng)

供應(yīng)瑞士SiTek一維/二維位敏探測器